馬波斯 NCGR 厚度測(cè)量?jī)x以光反射技術(shù)為測(cè)量原理，可有效測(cè)量多種材料的納米級(jí)薄膜的厚度。

馬波斯 NCGR 厚度測(cè)量?jī)x可為獨(dú)立測(cè)量設(shè)備，也可連接自動(dòng)化設(shè)備，在線管控厚度。不僅適用于成品檢測(cè)，其測(cè)頭設(shè)計(jì)讓其即使在惡劣生產(chǎn)條件下工作也能游刃有余，因而可用于產(chǎn)品在機(jī)內(nèi)加工時(shí)的實(shí)時(shí)測(cè)量。

馬波斯NCGR厚度測(cè)量?jī)x以光反射技術(shù)為測(cè)量原理：在不同表面的分界面處，光波發(fā)生反射，反射的波形取決于多層薄膜的疊加和各層薄膜的厚度。在多層復(fù)合材料上進(jìn)行訓(xùn)練后，這款測(cè)量?jī)x就可測(cè)量出厚度僅有數(shù)納米的目標(biāo)薄膜層的數(shù)據(jù)。

過(guò)去，納米級(jí)厚度測(cè)量幾乎都需要在加工后進(jìn)行。而如今，隨著機(jī)床數(shù)控技術(shù)的發(fā)展，可實(shí)現(xiàn)加工的同時(shí)進(jìn)行如此超高精度的測(cè)量。 馬波斯以數(shù)十年所積累的豐富經(jīng)驗(yàn)為基礎(chǔ)為此應(yīng)用設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)了專用的測(cè)頭和軟件，可滿足產(chǎn)品在機(jī)內(nèi)加工過(guò)程中的實(shí)時(shí)測(cè)量要求

優(yōu)勢(shì)：

• 提供納米級(jí)薄膜厚度的非接觸式測(cè)量。

• 加工過(guò)程中的實(shí)時(shí)測(cè)量