卡爾蔡司新品發(fā)布 | ZEISS OMNIA GC 220-180:大型部件檢測(cè)靈活性與效率的雙重飛躍
現(xiàn)代制造工藝日趨精密復(fù)雜,推動(dòng)鑄件尺寸向大型化、整體化不斷演進(jìn)。傳統(tǒng)檢測(cè)手段已難以滿足靈活高效的現(xiàn)代化生產(chǎn)需求。蔡司延續(xù)BOSELLO系列產(chǎn)品的技術(shù)理念,推出新一代大型部件自動(dòng)化X射線檢測(cè)設(shè)備ZEISS OMNIA GC 220-180,專為應(yīng)對(duì)未來(lái)制造挑戰(zhàn)而設(shè)計(jì),致力于為大型乃至超大型組件提供更先進(jìn)、更可靠的檢測(cè)方案。

專為大型部件檢測(cè)設(shè)計(jì)
ZEISS OMNIA GC專為汽車等行業(yè)大型鑄件檢測(cè)打造,搭載高品質(zhì)X射線與精密工程系統(tǒng),即便面對(duì)超大型部件,也能在效率、準(zhǔn)確性與成像之間實(shí)現(xiàn)完美平衡。其智能設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)復(fù)雜特征掃描全覆蓋,在維持高準(zhǔn)確性的同時(shí)大幅縮短檢測(cè)時(shí)間。

單門或雙門解決方案
適配多樣化需求
ZEISS OMNIA GC提供高度靈活的配置方案,精準(zhǔn)匹配不同產(chǎn)能需求。單門系統(tǒng)可無(wú)縫集成至現(xiàn)有生產(chǎn)線中,適用于中低產(chǎn)能連續(xù)任務(wù)的在線或線邊檢測(cè)場(chǎng)景。產(chǎn)能爬升時(shí),可升級(jí)為高產(chǎn)能雙門系統(tǒng),通過(guò)多托盤并行操作,實(shí)現(xiàn)裝卸與檢測(cè)同步的快速在線自動(dòng)化解決方案,助力制造商靈活配置資源,高效應(yīng)對(duì)未來(lái)挑戰(zhàn)。


多角度檢測(cè)的笛卡爾
坐標(biāo)軸設(shè)計(jì)
蔡司X射線檢測(cè)系統(tǒng)通過(guò)高精度笛卡爾機(jī)械臂的平滑的線性運(yùn)動(dòng)實(shí)現(xiàn)部件關(guān)鍵區(qū)域的全方位成像,可精準(zhǔn)完成傾斜、變焦及定位操作,確保系統(tǒng)能夠觸及復(fù)雜鑄件中最具挑戰(zhàn)性的檢測(cè)區(qū)域。配備±60°檢測(cè)傾角的X射線光束及最高15米/分鐘的運(yùn)動(dòng)速度,ZEISS OMNIA GC可從任意角度快速、靈活且無(wú)碰撞地執(zhí)行檢測(cè)任務(wù)。

ADR(自動(dòng)缺陷識(shí)別)
ZEISS OMNIA GC配備先進(jìn)的ADR(自動(dòng)缺陷識(shí)別)功能,可實(shí)現(xiàn)完全自動(dòng)化的檢測(cè)與缺陷評(píng)估,可根據(jù)ASTM標(biāo)準(zhǔn)對(duì)氣孔、夾雜物或裂紋等缺陷進(jìn)行自動(dòng)檢測(cè)與評(píng)估。

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