非接觸式光學(xué)測(cè)量

光譜共焦

     由于產(chǎn)品設(shè)計(jì)的演變往往與技術(shù)、復(fù)雜的形狀和外觀相匹配，因此市場(chǎng)對(duì)精度和質(zhì)量的要求越來越高。

     因此，測(cè)量和質(zhì)量控制正朝著使用非接觸式解決方案的方向發(fā)展，以實(shí)現(xiàn)高精度標(biāo)準(zhǔn)。

     STIL 光譜共焦是一種用于非接觸式光學(xué)測(cè)量的獨(dú)特技術(shù)，可滿足車間環(huán)境（如實(shí)驗(yàn)室）中最苛刻的應(yīng)用。

Zenith

     ZENITH：性能穩(wěn)固、易于安裝、操作簡(jiǎn)單

     ZENITH 是工業(yè)環(huán)境中光譜共焦控制器的上佳選擇?？商峁┎煌呐渲?，擁有簡(jiǎn)單的 SDK 或?qū)Ｓ械膮f(xié)議命令，它非常易于集成到機(jī)器中。

     ZENITH 控制器的柔性測(cè)量，可以將被測(cè)產(chǎn)品造成損害的可能性降低到零?；谝蕴W(wǎng)通訊， ZENITH可以在非接觸的情況下實(shí)現(xiàn)高精度的測(cè)量，而不會(huì)對(duì)被測(cè)產(chǎn)品造成任何損壞。

     ZENITH 框架緊湊，結(jié)構(gòu)穩(wěn)固，專為7天24小時(shí)全天候使用而設(shè)計(jì)。

     ZENITH 能夠在各種類型的材料和物體表面進(jìn)行超高分辨率的距離和厚度測(cè)量，包括反射性材料。它可為多種應(yīng)用環(huán)境和各種表面反射提供解決方案：透明的或不透明的，高光或漫反射。

納米級(jí)厚度測(cè)量

     ZENITH 與 EVEREST 光學(xué)筆系列相結(jié)合，可以實(shí)現(xiàn)大角度柔性測(cè)量，能夠測(cè)量和評(píng)估各種復(fù)雜結(jié)構(gòu)的輪廓。

     高頻率采樣是 ZENITH 與編碼器（最多5個(gè)）結(jié)合用于外部測(cè)量同步的動(dòng)態(tài)應(yīng)用的理想選擇之一。

     ZENITH 的控制器可兼容所有 MARPOSS STIL 光學(xué)筆：CL-MG、OP、ENDO 和 EVEREST，可實(shí)現(xiàn)出色的計(jì)量表現(xiàn)（可達(dá)納米級(jí)精度）。

     ZENITH 代表著多個(gè)行業(yè)的最佳解決方案：例如汽車、玻璃、電子和半導(dǎo)體行業(yè)，以及生物醫(yī)學(xué)和電動(dòng)汽車行業(yè)。