大家好，今天要給大家分享的是在使用蔡司三維光學(xué)掃描儀時(shí)，如何通過(guò)ZEISS INSPECT軟件的 “最佳擬合算法”，借助物體自身充足的表面特征數(shù)據(jù)，替代參考點(diǎn)完成定位與數(shù)據(jù)整合。

 一 為什么需要無(wú)參考點(diǎn)掃描？

使用蔡司三維光學(xué)系統(tǒng) ATOS Q 掃描時(shí)，會(huì)遇到無(wú)法使用參考點(diǎn)的場(chǎng)景，如物體表面特殊、工件結(jié)構(gòu)不允許粘貼，或現(xiàn)場(chǎng)需緊急掃描（無(wú)時(shí)間布置）。此時(shí)可選擇無(wú)參考點(diǎn)掃描，其核心是借助 ZEISS INSPECT 軟件的 “最佳擬合算法”，用物體自身充足的表面特征數(shù)據(jù)替代參考點(diǎn)，完成定位與數(shù)據(jù)整合。

 二 無(wú)參考點(diǎn)掃描的具體操作步驟

01首次掃描：采集基礎(chǔ)表面數(shù)據(jù)

使用ATOS Q掃描儀直接對(duì)目標(biāo)物體進(jìn)行首次掃描，無(wú)需提前布置任何參考點(diǎn)。此次掃描的核心目的是獲取物體的基礎(chǔ)表面輪廓數(shù)據(jù)，為后續(xù)定位提供 “特征基準(zhǔn)”。

02數(shù)據(jù)清理：優(yōu)化基礎(chǔ)掃描結(jié)果

完成首次掃描后，對(duì)原始數(shù)據(jù)進(jìn)行清理 —— 去除背景數(shù)據(jù)、掃描噪點(diǎn)等無(wú)效數(shù)據(jù)，保留物體的核心表面特征（如邊緣、凹槽、凸起等辨識(shí)度高的結(jié)構(gòu)），確保數(shù)據(jù)有效性。

03再次掃描：依托最佳擬合自動(dòng)定向

基于清理后的首次掃描數(shù)據(jù)，再次掃描。此時(shí) ZEISS INSPECT 軟件會(huì)自動(dòng)通過(guò) “最佳擬合算法”，將新掃描數(shù)據(jù)與首次掃描的表面特征進(jìn)行精準(zhǔn)匹配，完成自動(dòng)定向，無(wú)需手動(dòng)調(diào)整基準(zhǔn)。

04正反面掃描：合并不同角度數(shù)據(jù)

若需圍繞物體旋轉(zhuǎn)，采集兩側(cè)或多面數(shù)據(jù)，可重復(fù)上述流程：每完成一組掃描后，通過(guò)軟件的 “最佳擬合” 功能選擇對(duì)應(yīng)參考數(shù)據(jù)（如前一次掃描的有效表面特征），系統(tǒng)會(huì)自動(dòng)計(jì)算坐標(biāo)轉(zhuǎn)換關(guān)系，實(shí)現(xiàn)多組數(shù)據(jù)的無(wú)縫合并（具體操作可參考配套演示視頻）。

注意事項(xiàng)

常規(guī)掃描中，參考點(diǎn)的核心作用是定位測(cè)量基準(zhǔn)：既能識(shí)別設(shè)備移動(dòng)軌跡、驗(yàn)證系統(tǒng)校準(zhǔn)精度，也能助力多組測(cè)量數(shù)據(jù)快速完成坐標(biāo)轉(zhuǎn)換，讓 ZEISS INSPECT 軟件通過(guò)明確基準(zhǔn)簡(jiǎn)化計(jì)算、提升數(shù)據(jù)整合效率。此時(shí)，建議使用掃描支架，避免直接在工件粘貼參考點(diǎn)?；蛘撸瑨呙枨巴瓿稍O(shè)備校準(zhǔn)，掃描中保持設(shè)備穩(wěn)定，減少劇烈移動(dòng)對(duì)數(shù)據(jù)準(zhǔn)確性的影響。

點(diǎn)擊即刻問(wèn)詢

【點(diǎn)擊跳轉(zhuǎn)：】

獲取手冊(cè)

點(diǎn)擊圖片，歡迎下載ATOS Q產(chǎn)品手冊(cè)

> 點(diǎn)擊下載

【點(diǎn)擊跳轉(zhuǎn)：】

【點(diǎn)擊跳轉(zhuǎn)：】

如果想要了解更多三維掃描的操作方法、入門(mén)教程或是產(chǎn)品更新信息，大家可以訪問(wèn)官網(wǎng)www.handsonmetrology.cn 或者抖音平臺(tái)【點(diǎn)擊跳轉(zhuǎn)：】

，關(guān)注”蔡司三維光學(xué)“，獲取更全面的學(xué)習(xí)資源。

【點(diǎn)擊跳轉(zhuǎn)：】

往期 · 回顧

【操作指南】第一期：大幅降低廢品率！蔡司掃描儀搭配ZEISS INSPECT 軟件，一文學(xué)會(huì)虛擬裝配

【點(diǎn)擊跳轉(zhuǎn)：】