優(yōu)越的性能參數(shù)

性能&結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)

相機(jī)通過(guò)緊湊的機(jī)身設(shè)計(jì)，縮小相機(jī)所占空間，輕松適配各類工業(yè)檢測(cè)設(shè)備的有限安裝空間。

532萬(wàn)像素 細(xì)節(jié)大師

高精度成像

MV-CI050-Y1S-NN搭載Sony IMX992圖像傳感器，像素由IMX990的134萬(wàn)躍升至532萬(wàn)像素，是當(dāng)前市面上同類產(chǎn)品中的高分辨率戰(zhàn)士；靶面擴(kuò)展至1/1.4”，視野更廣，圖像精度大幅提升。

圖片來(lái)源：Sony官網(wǎng)

賦能高速檢測(cè)場(chǎng)景

高幀率 快節(jié)拍

相機(jī)配備1路CXP-12數(shù)據(jù)傳輸接口，在12.5G帶寬下可實(shí)現(xiàn)120.6fps高幀率，尤其適用于半導(dǎo)體等對(duì)快節(jié)拍要求嚴(yán)苛的高速檢測(cè)場(chǎng)景。

強(qiáng)大ISP 畫質(zhì)無(wú)憂

智能圖像優(yōu)化

相機(jī)內(nèi)置主動(dòng)式壞點(diǎn)校正、2D降噪與陰影補(bǔ)償?shù)菼SP算法功能，有效提升圖像均勻性與信噪比，確保輸出畫質(zhì)清晰穩(wěn)定。

高光譜行業(yè)應(yīng)用廣泛

多行業(yè)應(yīng)用

半導(dǎo)體/光伏硅片檢測(cè)

通過(guò)更高精度的SWIR圖像，單晶硅制品的檢測(cè)會(huì)更加便捷，同一視野下，能夠看清更多細(xì)節(jié)。

材料透檢

SWIR可以透過(guò)多種材料。不同材質(zhì)的物品，在特定的紅外波段下，會(huì)根據(jù)吸收、反射程度而呈現(xiàn)透明、半透明、白色、黑色等不同狀態(tài)，適用于同色材料分選，塑料內(nèi)部填充物檢測(cè)、深色物品內(nèi)部劃痕等。

含水量檢測(cè)

水在特定的波長(zhǎng)上有強(qiáng)烈的吸收作用，如在1.45μm波段下，水的吸收能力較強(qiáng)，所以在圖像中顯得比較暗。含水量少的部分，反射率會(huì)強(qiáng)烈增加，圖像亮度較高。

更高像素  更小像元

MV-CI050-Y1S-NN等你來(lái)體驗(yàn)