紅外熱像儀應(yīng)用-電路板研發(fā)溫度監(jiān)控
2022/8/11 17:10:44
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資料格式：
pdf
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資料大小：
1.93MB
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授權(quán)方式：
免費
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簡介：
在電路板設(shè)計測試階段，科研人員需要對電路板中的電子元器件進(jìn)行溫度監(jiān)測，觀察元器件的溫度負(fù)載情況，以保證電路板研發(fā)工作 的順利進(jìn)行。在測試過程中，需要模擬電路板的實際工作環(huán)境，觀察電子元器件從上電至穩(wěn)定這一過程中的溫度狀態(tài)。電路板中的電子元器件精細(xì)程度較高，傳統(tǒng)的接觸式測溫設(shè)備工作繁雜，不能滿足科研人員的測試要求。
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