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NI 工業(yè)測控系統(tǒng)應(yīng)用資料集(2010)

NI 工業(yè)測控系統(tǒng)應(yīng)用資料集(2010)

  • 資料格式:

    zip

  • 資料大?。?/b>

    0.794MB

  • 授權(quán)方式:

    免費

  • 簡介:

    NI LabVIEW圖形化開發(fā)環(huán)境,結(jié)合基于配置的工具和強大的編程功能,適于開發(fā)配有專業(yè)用戶界面的測量、分析和控制應(yīng)用程序。NI LabVIEW和NI PAC幫助用戶輕松觸及FPGA技術(shù),用戶因而能夠自行定義控制電路,同時削減了傳統(tǒng)自定義硬件中的復(fù)雜性和成本。


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(http://c.gongkong.com/?cid=49325)

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