在顯示面板制造邁向微米級甚至納米級精度的今天，自動光學(xué)檢測（AOI）系統(tǒng)的穩(wěn)定性與精確性直接決定了量產(chǎn)良率與成本控制。然而，傳統(tǒng)AOI系統(tǒng)在應(yīng)對曲面屏、折疊屏乃至未來形態(tài)的異形顯示面板時，卻面臨一個至關(guān)重要的挑戰(zhàn)：如何在多種樣品需穿透表層膜或玻璃，且精度要求的持續(xù)提升的同時，始終確保對焦平面與被測物表面的最佳相對位置，從而獲取清晰、無畸變的檢測圖像。面對這一行業(yè)共性難題，慕藤光憑借其在精密光學(xué)與自動對焦領(lǐng)域多年的深耕，推出的激光對焦光學(xué)系統(tǒng)為高精度面板AOI檢測提供了檢測解決方案。

面板AOI檢測

檢測需求：

檢測速度：飛拍（100mm/s以上）

離焦距離：±100um

自動對焦精度要求：1/2物鏡景深

厚度：500-1500um

離焦范圍：產(chǎn)品高差100um-200um

檢測需求：面板整體飛拍模式需實現(xiàn)面板全域覆蓋拍攝；邊緣掃描模式則聚焦線路區(qū)與電路區(qū)的交界處，僅針對該特定區(qū)域的缺陷點位開展檢測

視覺方案：

相機：MV-CH250-90TM-C-NF

鏡頭：MF200-C-S（1X）

單像素精度：0.71um/pixel、0.5um/pixel、0.25um/pixel

傳感器：MLAF-7V

物鏡：3.5X/5X/10X

物鏡切換器：MELT-4H-200

圖：慕藤光激光對焦光學(xué)系統(tǒng)

檢測效果：

圖：屏幕電路區(qū)檢測效果圖

圖：發(fā)光電路支架檢測效果圖

圖：Mini LED裂紋檢測效果圖

在技術(shù)迭代與成本優(yōu)化的雙重驅(qū)動下，顯示行業(yè)正以“性能升級+場景拓維”的發(fā)展邏輯，持續(xù)重塑產(chǎn)業(yè)格局。Mini LED在顯示與背光賽道的滲透節(jié)奏不斷加快，Micro LED則憑借芯片制備、巨量轉(zhuǎn)移、精準(zhǔn)檢測修復(fù)等核心技術(shù)的突破性進(jìn)展，從實驗室加速邁向規(guī)?；慨a(chǎn)階段，推動“終極顯示技術(shù)”向消費電子、智慧顯示等C端場景加速落地。站在產(chǎn)業(yè)變革的關(guān)鍵節(jié)點，慕藤光正與產(chǎn)業(yè)鏈伙伴共同構(gòu)建一個“缺陷無所通形"的微觀世界，為中國顯示產(chǎn)業(yè)在全球競爭中寫下"中國精度”的生動注腳！

// 關(guān)于慕藤光

慕藤光（Mvotem Optics）成立于2011年，是一家專注于微觀精密場景下光學(xué)鏡頭、光學(xué)傳感器和成像光學(xué)系統(tǒng)產(chǎn)品研發(fā)生產(chǎn)的光學(xué)產(chǎn)品公司。作為智能成像光學(xué)系統(tǒng)引領(lǐng)者，慕藤光致力于構(gòu)建微觀世界之美，以專業(yè)智慧發(fā)展光學(xué)技術(shù)。旗下產(chǎn)品覆蓋光學(xué)鏡頭、工業(yè)光源、傳感器、相機、圖像軟件、成像光學(xué)系統(tǒng)等七大板塊，產(chǎn)品應(yīng)用領(lǐng)域全方位覆蓋半導(dǎo)體、新能源、機密測量、消費電子、汽車、醫(yī)療、光通訊等中高端設(shè)備場景，為下游應(yīng)用提供了國內(nèi)前所未有的智能化產(chǎn)品，幫助國產(chǎn)智能裝備從中低端邁入高端競爭！