前言
在消費(fèi)電子產(chǎn)品檢測中,如何從反光強(qiáng)烈的金屬表面上識別出與背景紋理相似的微弱缺陷?當(dāng)平整度缺陷與色彩缺陷同時(shí)存在時(shí),有沒有什么方案可以一次檢出?
本期內(nèi)容,將通過消費(fèi)電子產(chǎn)品零部件的真實(shí)檢測場景,為您深入解析??乒怆?.5D相位偏折成像系統(tǒng)如何精準(zhǔn)捕獲易被忽略的缺陷。
筆記本電腦中框檢測
應(yīng)用場景
筆記本電腦中框是支撐主板、固定散熱模組、連接屏幕鉸鏈的重要金屬結(jié)構(gòu)件,其結(jié)構(gòu)強(qiáng)度、尺寸精度和外觀質(zhì)量直接影響產(chǎn)品品質(zhì),需檢測表面平整度、外觀以保障產(chǎn)品質(zhì)量。
檢測難點(diǎn)
(1)高反光材質(zhì)成像難:筆記本中框材質(zhì)為金屬,其表面具有強(qiáng)反光特性,依靠傳統(tǒng)2D視覺成像容易過曝或細(xì)節(jié)丟失,影響缺陷檢測的準(zhǔn)確性。
(2)缺陷識別極易被背景特征干擾:產(chǎn)品表面會留存加工刀紋,與產(chǎn)品表面的凹凸、劃傷類等缺陷紋理相似,成像后難以判定缺陷,輸出圖片需消除這些與缺陷相似的紋理,且缺陷區(qū)域灰度平均值與周邊背景區(qū)域差值需≥15。
??乒怆娊鉀Q方案
2.5D相位偏折成像系統(tǒng)
(1)采集2D原圖
采用??乒怆?.5D相位偏折成像系統(tǒng),通過程控條紋光源相位移動產(chǎn)生條紋圖,配合8K高幀率線陣相機(jī),采集X方向與Y方向共8張2D條紋原圖。
(2)輸出2.5D融合圖
若被測物表面不平整,拍攝到的條紋會產(chǎn)生相應(yīng)變形,即便是微小缺陷也會有較大梯度變化,根據(jù)變形量可通過圖像預(yù)處理輸出多張2.5D融合圖。
這些圖像不僅能表征被測物表面高度信息以檢測劃痕、淺凹凸等缺陷;還能清晰反映紋理信息,精準(zhǔn)呈現(xiàn)加工刀紋這類特定微觀特征。

(3)獨(dú)家算法助力缺陷識別
該產(chǎn)品表面加工刀紋與凹凸、劃傷瑕疵紋理相似,通過??篇?dú)家自研的刀紋去除算法進(jìn)行圖片處理,可有效去除背景紋路干擾;再配合缺陷增強(qiáng)算法凸顯缺陷特征,讓凹坑、劃痕等缺陷一目了然。

??乒怆娤辔黄鄢上裣到y(tǒng)能有效去除背景和表面顏色、反光影響,攻克筆記本電腦中框的檢測難題,適用于各類高反光和透明物體缺陷檢測。
以下是該技術(shù)在3C行業(yè)外觀檢測中的更多應(yīng)用實(shí)例。
散熱片缺陷檢測
手機(jī)散熱片檢測的核心難點(diǎn)在于微小的劃痕、凹坑等形貌缺陷與氧化處理后的色彩缺陷并存,通常需多工位采集圖像,亟需提高檢測效率。
采用??乒怆姴噬€陣相位偏折成像系統(tǒng),輸出的形狀圖可精準(zhǔn)捕捉表面細(xì)微的高度變化,突出平整度缺陷;輸出的彩色圖可清晰識別氧化不均與臟污等色彩缺陷,從而在一次掃描中完成對產(chǎn)品平整度與色彩的全方位判定。
手機(jī)背板缺陷檢測
手機(jī)背板的材質(zhì)一般是玻璃、金屬或陶瓷,表面高度光滑且反光,傳統(tǒng)2D視覺難以有效成像;且背板表面微小的凹坑、麻點(diǎn)等形貌缺陷在二維圖像中對比度極低,極易漏檢影響產(chǎn)品品質(zhì)。
??乒怆娤辔黄鄢上裣到y(tǒng)能夠敏銳捕捉檢測對象的細(xì)微高度變化,穩(wěn)定檢出凹坑、凸點(diǎn)、波浪紋等微弱形貌缺陷,為高品質(zhì)外觀檢測提供可靠的數(shù)據(jù)支撐。
鋼化膜缺陷檢測
鋼化膜表面的微小劃痕、凹坑或雜質(zhì)會直接影響貼膜屏幕的顯示與觸控體驗(yàn),必須嚴(yán)格檢測,但其高透光材質(zhì)對傳統(tǒng)2D視覺檢測構(gòu)成挑戰(zhàn),導(dǎo)致缺陷極難識別。
??乒怆娤辔黄鄢上窦夹g(shù)不依賴成像顏色或灰度對比來識別瑕疵,而是通過捕捉光線透過或折射的微觀形變,高靈敏度地重建被檢產(chǎn)品表面形貌,清晰呈現(xiàn)鋼化膜表面各類細(xì)微缺陷,確保產(chǎn)品品質(zhì)。
??乒怆?.5D系列產(chǎn)品
埃科光電旗下2.5D產(chǎn)品涵蓋硬件計(jì)算光度立體系列、軟件計(jì)算光度立體系列、軟件計(jì)算相位偏折系列。

全系產(chǎn)品均支持按照視野、速度需求進(jìn)行相機(jī)與光源選型,成套系統(tǒng)配置靈活,光路設(shè)計(jì)豐富,圖像處理流暢,支持FPGA、CPU、GPU等硬件內(nèi)植入算法,實(shí)時(shí)計(jì)算輸出2.5D融合圖像。
結(jié)語
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