FOUP晶圓盒的RFID讀寫器應(yīng)用
應(yīng)用背景
在半導(dǎo)體制造領(lǐng)域,晶圓作為芯片生產(chǎn)的核心載體,其每一次搬運(yùn)都關(guān)乎納米級精度的工藝控制與零缺陷的質(zhì)量承諾。隨著12英寸晶圓產(chǎn)能攀升與先進(jìn)制程普及,傳統(tǒng)晶圓搬運(yùn)環(huán)節(jié)的管理瓶頸日益凸顯:潔凈室中光學(xué)識別的微塵污染風(fēng)險、多設(shè)備協(xié)同中的信息斷層、SEMI標(biāo)準(zhǔn)下全流程追溯的效率短板,在此背景下,半導(dǎo)體專用RFID技術(shù)以其潔凈級設(shè)計、非接觸式精準(zhǔn)識別與高安全數(shù)據(jù)交互能力,成為突破產(chǎn)能瓶頸、構(gòu)建智能追溯體系的關(guān)鍵基礎(chǔ)設(shè)施。
應(yīng)用方案
標(biāo)簽綁定,數(shù)據(jù)零誤差:
●在FOUP側(cè)面嵌入標(biāo)簽,通過寫卡設(shè)備寫入唯一ID,自動關(guān)聯(lián)晶圓批次信息(直徑、材料等),與MES系統(tǒng)實時同步,杜絕人工錄入錯誤
●設(shè)備轉(zhuǎn)運(yùn):無縫銜接提效率:
AMHS軌道節(jié)點安裝讀寫器,F(xiàn)OUP經(jīng)過時完成識別,自動調(diào)用對應(yīng)工藝配方;
●質(zhì)量追溯:異常快速定位:檢測設(shè)備出口自動記錄缺陷數(shù)據(jù),NG品實時分流,異常時定位關(guān)聯(lián)晶圓,反向追溯效率提升。
應(yīng)用產(chǎn)品
晨控智能專為半導(dǎo)體制造業(yè)研發(fā)生產(chǎn)的RFID讀寫器CK-S650系列特點:
●多天線選擇:多種識別天線,滿足不同識別距離要求
●
●操作便捷:讀卡器內(nèi)部集成了射頻部分通信協(xié)議,用戶只需通過RS485通信接口發(fā)送接收數(shù)據(jù)便可完成標(biāo)簽的讀取操作,無需理解復(fù)雜的射頻通信協(xié)議。
●兼容性好:兼容讀寫多種半導(dǎo)體芯片;
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