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以太網(wǎng)交換機(jī)性能測試丟包的原因

以太網(wǎng)交換機(jī)性能測試丟包的原因

2016/4/26 9:16:56

  在以太網(wǎng)交換機(jī)性能測試過程中,經(jīng)常會(huì)遇到非設(shè)備性能因素導(dǎo)致的丟包,對測試產(chǎn)生困擾。這里簡單羅列幾種:

  1、測試套上報(bào)FCS錯(cuò)誤。

  一般是因?yàn)槟掣W(wǎng)線、光纖或某個(gè)模塊故障。解決方法為更換網(wǎng)線、光纖或模塊;

  2、小字節(jié)不丟包,大字節(jié)丟包。

  因?yàn)榇笞止?jié)占用buffer資源更多,所以這種情況一般是因?yàn)殚L幀造成的資源不足引起的,可以通過改變buffer設(shè)置,來優(yōu)化測試結(jié)果;

  3、大字節(jié)不丟包,小字節(jié)丟包。

  這種情況一般是由描述符資源限制引起的。部分芯片會(huì)為每個(gè)報(bào)文在其入端口上分配一個(gè)報(bào)文描述符,相同流量情況下,小字節(jié)占用的報(bào)文描述符就多;

  4、MAC HASH沖突。

  在二層性能測試中,如果使用大量MAC地址測試,可能會(huì)出現(xiàn)少量MAC不能被芯片學(xué)習(xí)的情況,導(dǎo)致部分流量廣播,造成丟包。應(yīng)先測試設(shè)備的MAC HASH能力,然后調(diào)整MAC地址的數(shù)量;

  5、聚合端口HASH不均造成丟包。

  一般情況下,在多芯片或者堆疊環(huán)境中,芯片之間的級(jí)聯(lián)口,或者堆疊設(shè)備之間的堆疊鏈路,都會(huì)使用多個(gè)高速鏈路的聚合方式來實(shí)現(xiàn)。在HASH算法不能保證絕對平均的情況下,會(huì)產(chǎn)生某條高速HASH到的流量速率過大,導(dǎo)致的丟包。

審核編輯(
王靜
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